Фокусируемый ионный луч и электронный микроскоп помогут изучить наноструктуру почвы


Наноструктуру почвы помогут изучить фокусируемый ионный луч и электронный микроскоп. Сообщает информационно — новостной портал FBM.ru.

Учёные из Института физики Земли предложили новейший метод внутреннего анализа образцов почвы. Данные опубликованы в журнале Geoderma. Как выяснилось, по маленькому образцу почвы можно выяснить её свойства, происхождение и плодородность. Специалисты смогли совместить фокусируемый ионный пучок и сканирующую электронную микроскопию.

Чтобы получить, трёхмерное изображение образца почвы на наноуровне учёные совместили двухмерные картинки. И смогли впервые количественно описать пористость почвы. Эксперимент провели на чернозёмной и дерново-подзолистой почве. Когда сравнили результаты, то выяснили, что из-за небольшой плотности органического вещества томография не способна отличить их от внутренних полостей.
На данный период времени специалисты работают над совмещением методик с другими на основе синхротронного излучения.

Добавьте FBM.ru в избранные новости Добавьте FBM в избранные новости

Оценить новость
( Пока оценок нет )
Наталья/ автор статьи
FBM.ru - Финансы  Бизнес Маркетинг